激光测径仪分类
测径仪(激光测径仪)大至分激光扫描测径仪，CCD投影测径仪，激光衍射测径仪，其中前两者都属光学的几何原理，后者为利用光学的波动原理。
CCD投影测量径仪，由于电机速度毕竟有限，而且扫描的平行光带不太容易保证，再加上平行光管与CCD的技术的发展，很多企业开始采用CCD成像法测量直径，在国内以上海欧勒在这方面做得较早，其光源采用波长较长的红外光，抗干扰较强，由于少了许多机械件，所以设备较稳定可靠，但CCD成像受相素的制约，在精度上不太容易拓展，特别是大直径的物体测量，但又不能太细，太细会有扫描测径仪相同的问题。
激光衍射测径仪(激光测径仪)，利用衍射原理测量细线的直径，此技术与前两项刚好相反，只适用于测小直径的细丝，而且越细越好，因为此技术是利用衍射原理，理论只有当波长与被测物相近或大于被测长物时衍射*明显。据网上查询，辉煌在这方面处于**地位，其产品在测量5um到300um的细丝是没问题的，根据其广告宣传*大可以测量到500um。其精度由于限于标准样件和测试环境的影响，只有0.2um左右，但其重复精度相当高，这是细丝测径仪的一个发展方向。
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