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PDA时间分解测光法特点

日期：2026-10-15 19:30

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摘要：

PDA时间分解测光法

标准的配备岛津**的PDA测光法，对各种各样的分析都可发挥其优势

PDA测光法（脉冲分布测光法）

过去的测光法对放电所得的光电流进行一定时间的单纯积分，而PDA法师对每个放电脉冲所得的光电流进行积分，将每个积分值的含义进行解析，进行*佳的处理，求得含量。PDA测光法除状态分析外，可进行过去不能进行的多种数据处理，因此可大幅度提高多种元素的分析精度。

时间分解测光法

不同光谱线取得*高的测定灵敏度的放电条件也不同。

缩短分析时间（一次分析10多秒）

采用复合放电和PDA时间分解测光法只需十多秒种即可取得分析值（1次分析时）

可控制各放电脉冲的数据，除去异常放电脉冲时的测光值，提高精度。

过去法测定光强度的全积分值，而PDA-7000系列求出光强度的频度数分布进行系统处理，因此可不受异常放电时光强度的影响进行测定

提高金属中容易形成夹杂物的非固溶元素的精度

与过去法相比，提供重新精度2～3倍（本公司比）

状态分析（酸溶铝的定量）

着眼于酸溶铝（S01-A1）和酸不溶铝（insol-AL）的发光强度的差异，采用统计处理，只需11秒即可进行酸溶铝的定量

降低试样缺陷（裂纹、针孔）对分析值得影响

使用每个放电脉冲的内标监控法监视内标元素的光强度，只选择在设定范围内时所得到的测定元素的光强度。将火花击中在试样制取时产生的缺陷部分的数据，通过统计处理而除去，可提高重新性。