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涡流测厚仪,天星ED400测厚仪
一、天星ED400测厚仪:适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
二、涡流测厚仪,天星ED400测厚仪仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
三、涡流测厚仪,天星ED400测厚仪技术参数
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测量范围: |
0~500 μm |
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测量精度: |
0~50 μm:±1 μm; |
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50~500 μm:±2% |
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分辨率: |
0~50 μm:0.1 μm; |
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50~500 μm:1 μm; |
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0~500 μm:1 μm(可选) |
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使用温度: |
5~45℃ |
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外形尺寸: |
150 mm×80 mm×30 mm |
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重量: |
280 g |
四、天星ED400测厚仪仪器特点及优势:
1、量程宽 ED400型涡流测厚仪量程达到0~500 μm。
2、精度高 测量精度达到2%。
3、分辨率高 分辨率达到0.1μm。
4、校正简便 只校正“0”和“50 μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。基体导电率影响小,基体材料从纯铝变化到各种铝合
金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于1~2 μm。
5、可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。
6、稳定性提高 采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
7、探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。



