总研单片硅钢铁损测试DAC-IR-2C

总研单片硅钢铁损测试DAC-IR-2C

一、总研单片硅钢铁损测试DAC-IR-2C硅钢片的进、出料试验.;锻烧过程中的品质控制.矽钢片的品质管理等.可广泛使用在硅钢片生产厂家、流通领域、马达、变压器及其他利用硅钢片制造产品的品质管理，包括出货、进货和成品抽样检验等，原材料及冲压后成形的单片均可测试。主要应用：硅钢片的进、出料试验；锻烧过程中的品质控制；矽钢片的品质管理等。

二、总研单片硅钢铁损测试DAC-IR-2C特点

1、非破坏性的测量方式，且能直接读取其铁损值.铁损值以W/kg显示方式.

6、重量轻、体积小，操作简单、方便。只用一片硅钢片材料或冲压成品便可直接读出以W/kg形式表示的铁损值，无需专门制作试样。
7、空置测试或无效测试自动断开等保护功能；
8、带调节功能，利用标准板，可定期校准仪器的精度；
9、采用触摸按钮,操作简便；抗电源等外界干扰功能强；
10、任意设定试品的宽度和厚度，适合各种形状的单片测试；
11、非破坏性测量方式，无需专门制作试品，直接读取铁损值；
12、电磁钢板 (硅钢片)、取向和无取向、冷轧和热轧钢板及普通铁板等均可使用。

    将绕有激磁线圈和磁束检出线U型磁铁置于被测试样上即开成闭合磁路。如果该U型磁铁的磁路断面面积比试片内磁路断面面积大许多时，则激磁线圈加电压时所产生的激磁电流与磁通检出线圈上产生的电压乘积即为试片内之损耗。本测定器备有试片厚度和测定用磁能密度选择开关，选择、设定后，试片的铁损值便可立即读出。铁损值可由此式得知:铁损=试片内损耗/试片内磁路部分的有效重量。试片内磁路部分的有效重量为试片厚度、试片内磁路面积与试片密度的算术乘积。而本装置的内置磁路宽度与长度已固定，只需设定板厚与磁通密度即可测定铁损。

四、总研单片硅钢铁损测试DAC-IR-2C技术参数

测试范围：0.10～19.99 W/kg；
磁通密度：按国际测试标准1.5T (无取向Non Oriented)；1.7T (取向Oriented Grain)两档切换；
试样厚度：0.10～0.99mm；
试样长度：20mm以上；
试样宽度：较小2mm ；5mm以上保证设计精度，形状不规则(非长方形)的复杂冲压片，可任意设定相近的有效宽度；
测试精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比较)；
测试频率：50Hz；
使用电源：AC110／220V (50Hz)；
环境条件：① 保证精度范围：15 ～ 35 ℃；
② 使用温度范围：0 ～ 40 ℃；
③ 允许湿度范围：35 ～ 85% (无露水)；
主机尺寸：W(190)x H(105)xD(295)mm ；
重量：主机约4 Kg。
总研单片硅钢铁损测试DAC-IR-2C标准配置：
测试仪DAC-IR-2C主机      1台
校正用标准铁芯（S和G）   各1片（S无取向Non oriented 和G取向Grain oriented）
标准探头                  1个
电源线（带地线的三路电线）1条
探头连接线                1条
铝合金收容箱              1只

总研硅钢片铁损测试仪DAC-IR-2C,SK-IR-3S,SK-IR-5C及国产TCIL-1A之间的相比：